自主的に無磁性プローブを開発し、錫を付着させないプローブは航空軍需産業医療などの業界に応用することに成功し、現代化ハイテク電子製品の核心部品となっている。製品は主に各種電子及びその周辺製品のテスト、例えば:半導体部品、CPUチップ、PCB回路基板、LCDスクリーン、カメラカメラカメラ、IOT.IoT自動車、及びその他周辺電子製品のオンラインテストに応用される。

IC試験治具における半導体プローブの役割

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  IC試験治具における半導体プローブの役割

  1、IC試験治具における半導体プローブの耐久性向上

  半導体プローブの設計により、ばね空間が従来のプローブよりも大きくなるため、より長い寿命を得ることができる。

  2、電源を切らない接触設計

  ストロークが有効ストローク(2/3ストローク)を超えている場合、または一般ストロークの場合、より低い接触インピーダンスを維持することができ、プローブによる仮性開放による誤審を解消することができる。

  3、テスト精度を高めた

  ICテスター針はより細かく、通常直径は0.58 mm以下、全長は6 mmを超えないため、同規格製品のより良い精度を達成することができる。

  IC試験冶具は汎用性が高く、粒子制限枠を交換するだけで、サイズの異なる粒子を試験することができる、超短輸入二重プローブ設計を採用し、同類の試験製品に比べて、ICとPCB間のデータ伝送距離をより短くすることができ、それによって試験結果がより安定し、周波数がより高く、DDR 3シリーズの最高周波数は2000 MHzに達することができることを保証する。