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技術的ブレークスルー：LANYIエレクトロニクスが自動光学検査（AOI）技術に関する特許を取得し、試験の効率を飛躍的に向上
中国・東莞 – 2025年3月19日 – 中国国家知識産権局（CNIPA）による最新の公表によれば、 東莞ランイー電子技術有限公司 自社開発の「」について、正式に特許が付与されました プローブ式自動光学検査（AOI）装置 「（認可公告番号：CN222625414U）。本特許は、半導体テストプローブの自動検査分野において、LANYIエレクトロニクスにとって重要な節目を示すものです。」
精密試験のボトルネックへの対応
半導体テストプローブは、従来から手作業による目視検査に依存してきた超精密電子部品です。この従来の手法は、効率の低さや人為的ミスにより制約を受けることが多く、大規模生産の妨げとなることがあります。
LANYIの新特許取得済みAOIシステムは、振動式トレイによる自動供給、多角度光学寸法測定、ならびに高度な表面欠陥検出を活用することで、このプロセスを革新します。その結果、完全自動化された高速検査ラインが実現されます。
コア技術の優位性：
- 360度の包括的なカバレッジ： 本システムは、プローブの側面、45度傾斜した上面、および下面を高精度で測定します。これにより、寸法偏差や表面欠陥を極めて高い精度で検出することが可能です。
- 効率の向上とコスト削減： 検査サイクルを大幅に短縮し、精度を向上させることで、同システムは人件費を効果的に削減するとともに、AIと自動化された製造の統合を加速します。
全チェーンにわたる研究開発と生産の強化
本特許の承認は、LANYIエレクトロニクスの全工程にわたる自社開発能力を一層強固なものにします—— 調査・研究開発、製造、および品質管理 この技術的な防衛線は、世界の半導体市場において大量かつ高品質な量産を実現するための堅固な基盤を提供しています。
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