IC試験シート及び分析試験治具の使用上の注意事項の紹介
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ICテストの主な目的は、設備検証ICが劣悪な環境条件下で所望の動作または機能を実行できることを確保することである。合格チップと不合格チップを区別し、製品の品質と信頼性を確保し、ICテストシートを理解するためにご案内します。
ICテストシートは、ICが設計通りに動作または機能を実行できるかどうかを検証するために使用されます。機能テストはデジタル回路テストの基礎である。ICの実際の動作状態をシミュレートし、一連のテストモードを順次またはランダムに組み合わせて入力し、回路で規定された速度で被測定デバイスに作用し、出力信号と回路出力が一致するかどうかを検出します。図形データのマッチングが予想され、回路機能が正常かどうかを判断する。その焦点はモード生成速度、エッジタイミング制御、入出力制御、マスク選択である。
試験座プローブの特殊な頭形突起は錫球の酸化層を貫通することができ、接触が確実で錫球を損傷しない。高精度位置決め溝またはガイド穴は、ICの位置決めが正確で、生産効率が高く、プローブを交換でき、メンテナンスが便利で、コストが低いことを確保する。
ICテストシートは手動反転構造と自動押下構造を採用し、操作が便利である、カバーアップIC押え板はばね加圧構造を採用し、自動的に下向き圧力を調節でき、ICの受圧が均一であることを保証する。
試験治具の使用上の注意事項の分析
テスト治具は、ある製品や半製品の検出とテストを実現し、その機能が設計者の初心に合っているかどうかを判断するために加工製造が必要な補助設備である。主に電子、電気、コンピュータの工場の生産ラインでPCB配線板の品質を測定するために使用されている。では、試験治具を使用する際に押さえておくべきポイントは何でしょうか。
試験治具の使用上の注意事項の分析
1、試験治具の損傷が修復使用できず、顧客が交換して使用しなくなった場合、廃棄してやり直してもよい。
2、試験治具は電気測定室の責任者が登録して使用しなければならない。使用が完了すると、治具室に戻されて渡されます。
3、制作が終わったら制作室に入れ、治具の鉄製フレームに置いて、模型マークを付ける。
4、試験治具に針切れ老化現象が発生した場合、針を交換して修理し、引き続き使用することができる。
電磁干渉/EMIは現在、電子分野全体が直面し、克服する必要がある問題であり、一般的に、携帯電話、無線LANカード、無線ルータ、無線イヤホン、Bluetoothイヤホン、wi-fi、wimax、データカード、インターホン、RFIDは無線通信装置と無線通信モジュールなどのカード試験と試験の過程で、無線周波数試験におけるベースジョイントシールドボックス/TOJOINRFShieldBoxを試験治具として用いて試験環境を改善した。

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