如何判断BGA测试座的质量是否满足要求?
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如何判断BGA测试座的质量是否满足要求?
目前,全球市场上的BGA测试座有很多种类型,如燃烧座、编程座、功能BGA测试座、高频BGA测试座等,其中,根据客户的测试条件对不同的要求,BGA测试座的重要材料也会有所不同。如上所述,对高温、湿度、老化时间等都有要求,根据国际标准,试验材料、弹簧销的要求,也就不同了。因此,要了解BGA测试座的质量,就需要确认自己的要求。获取数据后,可以开始测试对应的参数是否满足测试要求。
确认测试要求后,从IC测试夹具供应商处获取测试座,然后开始相应的测试。试验过程大致为:尺寸检验-试验插座性能-老化性能-机电性能。关于BGA测试座的尺寸,首先是测试座的长度和宽度,然后是芯片放置位置的长度和宽度,最 后是测试座与芯片之间的引脚间距。这是确认测试座与芯片之间正确接触的最基本的测试要求。进一步严格的测试需要辅助测试,使用电子显微镜和EDS,使用横断面分析来确认BGA测试座的PIN PIN与IC衬垫之间的接触。同时用电子显微镜检查测试座的PIN,在芯片衬垫上留下标记,确认测试过程中测试座对芯片的影响。这也是测试插座质量的标准之一。众所周知,测试座是用来测试芯片的质量的,前提是芯片的质量不受影响。
其中,老化座在高温等条件下的燃烧试验,以满足芯片的试验要求。一般135℃以上,相对湿度85%,试验时间在100小时以上。这部分最 后基于芯片的测试要求。有时,芯片测试工程师需要验证IC测试支架的使用寿命。在这种情况下,就有必要对燃烧座的多芯片插件进行测试。用于确认测试座的使用寿命。这部分也是确认BGA测试座质量的评定条件之一。这也是IC测试厂商评估其价格的最重要条件之一。最 后给出IC试验台的机电性能结果,即接触力、操作力、接触电阻、绝缘电阻、电压试验和最 大电流。根据测试对象的不同,芯片测试一般分为最终测试和晶圆测试,晶圆测试是指已封装的芯片和未封装的芯片。为什么两个部分?简单地说,因为包装也有成本,为了尽可能节省成本,可能会在芯片包装之前进行部分测试,排除一些破碎的芯片。为了保证出厂芯片没有问题,最终的测试也是FT测试是最 后的拦截,也是一个必要的环节。一般来说,芯片测试实际上是一个相对较大的领域。

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