自主研发无磁探针,不粘锡探针已成功应用于航空军工医疗等行业,已成为现代化高科技电子产品核心部件。产品主要应用于各类电子及其周边产品的测试如:半导体元器件、CPU芯片、PCB电路板、LCD屏幕、Camera摄像头、IOT.物联网汽车,及其它周边电子产品的在线测试。

测试探针的相关介绍

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  测试探针探头的选择,是否能接触到特性,以及在接触过程中保证一定的准确性是用户应该关注的事情。目前,探针的种类很多,形状各异,材料各异。

  测试探针测头是坐标测量机的一部分,主要用于接触工件表面,使测头的机械装置发生位移,产生信号触发并采集测量数据。典型的探针由一根杆子和一个红宝石球组成。根据需要测量的特性,可以确定应该使用的探针的类型和大小。在测量过程中,要求探头的刚度和测量针尖的形状达到可能的程度。探头长度应尽可能短。探头弯曲或歪斜越大,精度越低。因此,测量时尽量使用短探头。连接点非常少,每次将探头连接到延伸杆时,都会引入额外的潜在弯曲和变形点。因此,应尽量减少应用程序过程中的连接数。让球尽可能大?这主要有两个原因。球和杆之间的间隙更大,这减少了被“晃动”触发的机会。较大的球直径减少了未抛光表面对精度的影响。弹簧测试探头(GKS)通常包含三个组件。这些元件的制造必须达到微电子学所要求的精度。

  1、测试探针针部分

  针主要起到连接作用,可与各种针配套使用。测试探头与测试点之间的接触电阻尽可能小,以保证测试结果的真实性。作为针的材料,使用钢和铍铜,分别硬化,或黄铜非常钝的针形状。

  2、测试探针针套筒部分

  针套支撑针和弹簧。测量信号传输到探头针套。为了优化性能,除了在针套上镀金外,还可以在针套上涂一层薄薄的有机保护层。探头针套(KS)用于在维护测试夹具时更换测试探头。它可以快速更换,不需要布线工作。为此目的,在侧面提供一个卷曲的位置。在此期间需要注意的是,只有将套管装入井眼后,边缘点才能发挥其作用。也就是说,必须将针插入探针板后才能装入探针。

  在使用长探头和长杆组合测量时,不建议使用天平的动态接触探头,因为在这种情况下使用探头容易弯曲和变形,会降低硬度,失去精度。不锈钢、碳化钨、陶瓷及各种特殊碳纤维材料“雷尼肖GF”。红宝石材质长而硬,制成的探头磨损小。它也有一个非常低的密度,减少尖 端质量和防止探针被机器运动或振动触发。简单的红宝石探针更适合各种检测应用。该杆可用于多种材料选择,结构简单的探头系统包括极球形的工业红宝石球,杆材的选择。使用较大的红宝石球可以减少被测部件表面粗糙度的影响。