测试探针的用途及类型
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测试探针测试表面镀金,内部有平均寿命3万~10万次的高性能弹簧。目前使用的材料是W和ReW,一般有弹性,容易偏移,粘到金屑,需要多次清洗。磨损损针长,寿命一般。下面,我们来看下,检测探针的用途及类型。
一、测试探针测试的用途
材质的免清洗针,这种材质弹性好,在试验中不易偏移,而且不粘金屑,免清洗,所以寿命长。分类根据用途可分为:
1、光线路板:线路板检测组件安装前只有开路和短路检测,大部分国产产品可以替代进口产品;
2、在线检测:PCB电路板组件安装完成后进行检测;高 端产品的核心技术仍掌握在外资企业手中。研制成功了部分国产产品,可替代进口产品。
3、微电子测试探针:即晶圆检测或芯片IC检测,核心技术仍掌握在国外公司手中,国内厂商积极参与研发,但只有一小部分成功生产。
二、测试探针测试类型
1、悬臂和垂直。
2、悬臂:叶片式。
3、环氧类型 。
4、立式:立式。
5、ICT系列。
一般直径在2.54mm-1.27mm,有行业标准称100mil、75mil、50mil,还有比较特殊的直径只有0.19mm,在线电路检测和功能检测。又称ICT检测和FCT检测。它也是目前应用较为广泛的一种探针。非标准一般是为少数客户谁制造大型检测机器,如Teradyne和安捷伦。试验机和检测夹具的接触点和表面。两个检测点的中 心距一般为0.25mm~0.76mm。
一个开关有两个电流。该波检测高频信号同轴,包括10GHz内带屏蔽环或500MHz内不带屏蔽环的同轴。旋转探针的弹性一般不高,因为它们本身具有穿透性,通常ospn处理的PCBA检测。大电流的直径在2.54mm~4.75mm。检测电流可达39安培。
半导体探针的直径一般在0.50mm-1.27mm。带宽大于10GHz,50ω特性。电池和连接器触点通常优化接触效果,具有良好的稳定性和长寿命。除了上述类型,还有温度和开尔文,这两种很少使用。
可分为开路检测、短路检测、电阻检测、电容检测、二 极管检测、晶体管检测、场效应管检测、IC引脚检测等。其他一般和特殊部件的漏电、错装、参数值偏差、焊点焊接、电路板开路短路等故障,并通过打印机或屏幕显示准确地告诉用户哪个部件或开路短路位于哪个点。
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