ICテストシートの特徴紹介
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ICテストシートにはどのような特徴がありますか?
ICテスターは主にオンラインモノリシックIC部品と各回路のネットワークを介した開短絡状況の検査、および技術シミュレーション部品機能とデジタル部品論理システム機能分析試験に使用することができる。ユーザーは、テスト中に劣悪な環境条件下で設計規範に規定された機能と性能指標を完全に実現する。簡単に言えば、テストチップの資質です。
ICパッケージ後のテストに使用されるICテストシートは、主に相互に組み立てられた上部カバープレート(コンタクトシート)とベース(icシート)を含む。好ましい実施形態では、ICテスターは、イメージセンサー(ImageSensor)におけるセラミックリードチップキャリアのパッケージおよびテストに使用される。
このICテストシートは、上部カバープレート(コンタクトシート)の内部に貫通孔が設けられ、複数のテストプローブが貫通孔に近接して設けられ、測定対象ICに接触するために用いられ、各テストの内部プローブはテストスプリングを提供することを特徴とする。試験プローブは貫通孔の周囲に配置されている。
ICテスターホルダーはプログラムをチップに書き込むために使用され、書き込むにはプログラミングボックスの協力が必要です。ICテストソケットをプログラミングボックスのソケットに入れ、ICチップをソケットに入れてプログラミングします。では、集積回路試験台の役割は何ですか。
ICテストシートの機能は:
0.3 mm未満のプローブボールは、既存のデバイス表面にカスタムパッケージすることができます;
両面テスト;
複数のトップカバースタイルを選択できます;
顕微検査に適した超薄型トップカバー;
多種の異なるタイプのスプリングによるテストプローブは、企業の大多数の学生の需要(無鉛、低インダクタンス、高強度、大電流、ケルビンテスト情報コンセントなど;
テストシート:
ICテストシートを開けて焼き戻しを行う、
無線周波数特性評価及び試験のための低インダクタンス試験プローブ;
鉛フリーパッケージ用の高強度トップピン;
ICテストソケットには内蔵開口部があり、部品の配置に便利です。
IC試験ソケットは、試験中に劣悪な環境条件下で設計規範に規定された機能と性能指標を完全に実現するためのものである。製造上の欠陥や欠陥のある部品を検査するために、オンライン部品の電気的性能と電気的接続をテストする標準的な試験装置です。
ICテストシートは手動回転構造と自動押圧構造を採用し、回転カバー上のIC押え板はばね押圧構造を採用し、自動的に下向き圧力を調整し、IC押圧の均一性を保証することができる。
プローブの特殊なヘッド形突起は溶接ボールの酸化層を貫通することができ、接触が信頼でき、溶接ボールを損傷しない。高精度製品の位置決め溝またはガイド穴は、ICの位置決めが正確であることを確保し、生産作業効率が高く、プローブを交換でき、維持管理が便利で、コストが低い。
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