プローブの交換時間
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試験プローブは、ICT/FCT試験プローブ、BGAプローブ、高周波プローブ、大電流プローブの統一名称である。どんなプローブにも寿命があり、プローブのスペクトルには一般的に寿命があり、主にスプリングの寿命を見ています。では、テストプローブの寿命に影響する要因は何があるのでしょうか。ここでは、テストプローブの寿命に影響する要因を簡単に紹介します。
伝統的なICT/FCT検出器についてお話ししましょう。これらのプローブの寿命は通常約300.000回であるが、寿命は通常試験環境によって決定される。試験環境が悪いと、各種不純物がプローブ内管に入り込み、スプリングが損傷するため、プローブを交換する必要がある。これは小交換で、もう一つは定期的にプローブを交換することです。しばらく使用すると、プローブを交換する必要があります。高周波プローブであれば、これは特殊です。高周波プローブは主に高周波プローブの内芯にあるので、高周波プローブの交換は通常内芯の交換に関連し、コストを大幅に削減することができる。
一般に、プローブは細くなるほど短くなるので、正常なプローブの寿命はメーカーが与えた理論寿命に近い。治具のメンテナンスをしっかりと行い、治具テストの板清浄度が高い。プローブの規定されたスケジュールに従ってテストを行うと、プローブの交換頻度が低くなります。

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