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プローブの交換頻度をテストする

テストプローブとは、ICT／FCT用プローブ、BGAプローブ、高周波プローブ、大電流プローブなどの総称です。いずれのプローブも固有の寿命を持ちますが、その寿命は主にスプリングの耐久性に依存します。では、テストプローブの寿命に影響を及ぼす要因にはどのようなものがあるのでしょうか。ここでは、テストプローブの寿命に影響を与える要因について簡単にご紹介します。

伝統的なICT/FCT検出器についてお話ししましょう。これらのプローブの一般的な耐用回数は約30万回ですが、実際の寿命は試験環境によって大きく左右されます。試験環境が劣悪な場合、各種不純物がプローブの内管内部に侵入し、スプリングが損傷する原因となり、結果としてプローブの交換が必要になります。これは比較的軽微な交換であり、もう一つは定期的なプローブ交換です。一定期間使用した後には、プローブを交換する必要があります。なお、高周波用プローブについては特有の点があります。高周波用プローブは主にその内部コア部分に特化しているため、交換時には通常、内部コアの交換のみで済み、これによりコストを大幅に削減することが可能です。

一般的に、プローブは小型で短いため、通常の使用寿命はメーカーが示す理論値に近くなります。治具の保守管理や治具テスト基板の清浄度を徹底し、プローブに応じた試験スケジュールを適切に設定することで、プローブの交換頻度を低減できます。