自主開発した無磁性プローブと錫付着防止プローブは、業界での応用に成功し、現代のハイテク電子製品に欠かせない核心部品となっています。当社製品は主に各種電子製品及び周辺機器の試験に使用されており、半導体部品・CPU チップ・PCB 基板・LCD パネル・カメラモジュール・IoT 車載機器などのオンライン試験に対応しています。

ICTオンラインテスト用針スリーブ

主にPCBボードに固定し、ICTオンラインテスター針とセットで使用する。お客様がテストプローブを交換しやすくなります。

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ICT針オンラインテスト針

ICT/FCTテスターとも呼ばれ、主にオンライン回路試験と機能試験に用いられる。ボード上のオンライン部品の電気性能と回路ネットワークの接続状況を検出し、部品を定量的に測定し、機能試験を行うことができ、現在多く応用されているプローブである。

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半導体高周波テストピン

主に半導体ウエハ試験、チップパッケージ試験に用いられる。極めて低い接触抵抗。5〜40 GHZ無線周波数要件を満たす超高帯域幅を有する試験プローブ。

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インターフェイススルー試験針

主にPCB板の試験に用いられ、線路と線路間抵抗の比較により線路板が開いているかどうか、短絡欠陥。

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一般PCBばね試験針

主にPCBボードのテストに使用します。汎用性が強く、普遍性が広く、線路と線路間の抵抗や容量の比較によって線路導通などの欠陥を判断する。

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