非磁性プローブの独立した研究開発である焦げ付き防止スズプローブは、航空、軍事、医療、その他の業界で成功裏に使用されており、現代のハイテク電子製品のコアコンポーネントになっています。 これらの製品は主に、半導体部品、CPUチップ、PCB回路基板、LCDスクリーン、カメラカメラ、IOT、Internet of Things車、その他の周辺電子製品など、さまざまな電子および周辺製品のテストに使用されます。

テストプローブの原理は何ですか?

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テストプローブは、それらに相補的な核酸配列を検出するために使用される小さな一本鎖DNAまたはRNAフラグメント(約20〜500 bp)です。二本鎖DNAは、加熱により変性して一本鎖になり、放射性同位元素(通常はリン32)、蛍光色素、または酵素(西洋ワサビペルオキシダーゼなど)で標識されてプローブになります。リン32は通常、DNAを構成する4つのヌクレオチドのうちの1つのリン酸基に組み込まれ、蛍光色素と酵素が核酸配列に共有結合します。

ここで、テストフィクスチャでは、テストプローブが媒体として使用され、プローブがケーシングに配置され、プローブヘッドがテスト対象物に接触し、もう一方の端にあるケーシングのリード線が信号を伝導します。受信信号はテスターに​​あります。たとえば、抵抗器は電流源を使用してプローブの両端の電圧降下を計算し、コンデンサーは定電圧源を使用してさまざまな周波数での充電時間の傾きを計算します。フィクスチャに入れると、連続使用の特徴があり、コストも高くありません。テストコミュニティで広く使用されています。

テストプローブのヘッドタイプには多くの種類があります。主な理由は、テストポイントごとに必要なヘッドタイプが異なるためです。たとえば、ディップフィートはマルチクローヘッドタイプを使用し、テストパッドポイントは尖った丸型またはフラットヘッドを使用し、ICピンは梅の花を使用します。ヘッド形状等は、完成したPCBの部品に応じて、経験豊富な生産者が選定します。

ナノメータリングはプローブの材料を強化するだけであり、テストフィクスチャへの影響はありません。興味がある場合は、テストフィクスチャへの影響はAOI検出などのテスト機器の一部である必要があります。